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产品描述
仪器简介:
日本AET微波(高频)介电常数测试仪, 利用微波技术结合高Q腔以及3D电磁场模拟技术,采用德国CST公司的3D电磁类比软件MW-StudioTM,测量材料的高频介电常数,此方法保证了介电常数测量结果的精确性。
AET公司开发了二种共振腔:空洞共振腔和开放式同轴共振腔用于测试环境腔,空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板,薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。开放式同轴共振腔适用于不同形状样品,包括薄膜样品的非破坏性测量,使用简易的逐步操作,内置的反馈振荡器电路可实现精确的量测。
技术参数:
频率范围:1G~18GHz
同轴共振腔:Epsilon:1~15,准确度:+/-1%,
tangent delta:0.1~0.001,准确度:+/-5%
空洞共振腔:Epsilon:1~30,准确度:+/-1%,
tangent delta:0.05~0.0001,准确度+/-5%
主要特点:
应用领域:
薄膜材料,半导体材料,电子材料(包括CCL和PCB),化学品,陶瓷材料,纳米材料,光电材料等。
不仅可测试固体,而且可测试液体,粉末等。
日本AET微波(高频)介电常数测试仪,介电常数分析,介电损耗测试,高频介电常数测量。